原子力顯微鏡是一種高精度的納米級(jí)表征工具，能夠?qū)Χ喾N類(lèi)型的樣品進(jìn)行表面形貌和物理性質(zhì)的探測(cè)。然而，AFM原子力顯微鏡也存在一些限制，以下是原子力顯微鏡通常無(wú)法直接測(cè)試的樣品類(lèi)型及相關(guān)注意事項(xiàng)：

表面起伏過(guò)大的樣品：由于原子力顯微鏡對(duì)樣品表面的平整度有嚴(yán)格要求，如果樣品表面存在較大的起伏，可能會(huì)導(dǎo)致部分表面無(wú)法被探測(cè)到，從而無(wú)法獲得真實(shí)的形貌。因此，這類(lèi)樣品需要先進(jìn)行表面平整化處理。

易損壞或易變形的樣品：在接觸式AFM原子力顯微鏡中，探針J端會(huì)與樣品進(jìn)行實(shí)際接觸，這可能會(huì)損壞或改變一些脆弱或易變形的樣品。對(duì)于這類(lèi)樣品，可能需要考慮使用非接觸式或輕敲式原子力顯微鏡模式，以減少對(duì)樣品的破壞。

特定環(huán)境下的樣品：雖然AFM原子力顯微鏡可以在大氣和液體環(huán)境下操作，但在某些J端環(huán)境下（如高溫、高壓、強(qiáng)磁場(chǎng)等），原子力顯微鏡的性能可能會(huì)受到影響，導(dǎo)致無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)試樣品。

不兼容的基底：樣品通常需要固定在基底上進(jìn)行測(cè)試。如果樣品與所選基底不兼容（如化學(xué)反應(yīng)、溶解等），則無(wú)法進(jìn)行測(cè)試。因此，在選擇基底時(shí)需要考慮樣品的特性和測(cè)試環(huán)境。

導(dǎo)電性差的樣品：雖然AFM原子力顯微鏡可以檢測(cè)導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體表面，但一些導(dǎo)電性極差的樣品可能在測(cè)試中產(chǎn)生噪聲或干擾，影響成像質(zhì)量。對(duì)于這類(lèi)樣品，可能需要采取特殊的制樣方法或測(cè)試條件。

樣品量不足：原子力顯微鏡測(cè)試需要一定的樣品量以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。如果樣品量不足（如液體樣品少于3mL，固體粉末樣品少于10mg等），則可能無(wú)法進(jìn)行測(cè)試或結(jié)果不準(zhǔn)確。

綜上所述，AFM原子力顯微鏡在測(cè)試樣品時(shí)具有一定的局限性。在準(zhǔn)備測(cè)試樣品時(shí)，需要充分了解樣品的特性和測(cè)試需求，以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。