原子力顯微鏡可以檢測(cè)金屬。AFM原子力顯微鏡是一種基于針尖與樣品之間原子作用力的探測(cè)技術(shù)，不要求樣品具有導(dǎo)電性，因而可以用于研究金屬、半導(dǎo)體、絕緣體等多種材料，大大彌補(bǔ)了掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope，STM）無(wú)法研究非導(dǎo)電材料的局限。

原子力顯微鏡的原理是利用針尖與樣品表面原子間的微弱作用力來(lái)作為反饋信號(hào)，維持針尖與樣品間作用力恒定，同時(shí)針尖在樣品表面掃描，從而得知樣品表面的高低起伏。它可適用于各種物品，如金屬材料、高分子聚合物、生物細(xì)胞等，并可操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境，進(jìn)行不同物性分析。AFM原子力顯微鏡*大的特點(diǎn)是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作，因此在生物材料、晶體生長(zhǎng)、作用力的研究等方面有廣泛的應(yīng)用。

此外，原子力顯微鏡具有高分辨地測(cè)試樣品表面微區(qū)（納米及亞微米尺度）三維形貌的能力，還可以準(zhǔn)確地對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，如測(cè)試多種材料表面組分區(qū)別、溫度、表面電勢(shì)、磁場(chǎng)力、靜電力、摩擦力、電流、電容等。

需要注意的是，由于AFM原子力顯微鏡是納米級(jí)別的表征手段，一般要求樣品表面平整，若樣品表面起伏較大，可能探測(cè)不到部分樣品表面從而無(wú)法得到真實(shí)的形貌。因此，在制備樣品時(shí)，如塊狀和薄膜樣品，一般用膠粘在樣品臺(tái)或基底上，并注意塊體樣品需上下表面平行，金屬、陶瓷等塊體樣品的待測(cè)面需拋光。

綜上所述，原子力顯微鏡不僅可以檢測(cè)金屬，而且在金屬材料的納米級(jí)表征和物理化學(xué)特性研究方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。