原子力顯微鏡可以用來觀察硅片。原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM）是一種具有高分辨率的新型表面分析儀器，具有原子級別的識別能力，可以在多種環(huán)境下（空氣或溶液環(huán)境）對各種材料和樣品進行納米級別的觀察與探測。

在觀察硅片時，AFM原子力顯微鏡可以無損地測量硅片的表面形貌，包括其粗糙度、高度、厚度等信息。同時，原子力顯微鏡還可以對硅片進行三維模擬顯示，使圖像更適合人的直觀視覺。這種無損、高分辨率的觀測方式使得AFM原子力顯微鏡在半導體加工、材料科學等領域具有廣泛的應用前景。

具體來說，原子力顯微鏡通過利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力來達到檢測的目的。在掃描樣品時，傳感器會檢測這些變化，從而獲得作用力分布信息，進而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。這種技術不僅可以觀察導體，還可以觀察非導體，如硅片等。

因此，AFM原子力顯微鏡是一種非常適合觀察硅片的工具，能夠提供關于硅片表面的詳細、準確的形貌和結構信息。