原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發(fā)展起來的掃描探針顯微鏡?？梢詸z測(cè)很多樣品，提供表面研究和生產(chǎn)控制或流程發(fā)展的數(shù)據(jù)，這些都是常規(guī)掃描型表面粗糙度儀及電子顯微鏡所不能提供的。

原子力顯微鏡的作用有：

  1、在力測(cè)量中，原子力顯微鏡可以用來測(cè)量探針和樣品之間的力，作為它們相互分離的函數(shù)。這可以應(yīng)用于力譜分析，測(cè)量樣品的機(jī)械特性。

  2、對(duì)于成像來說，探針對(duì)樣品施加在其上的力的反應(yīng)可以用于以高分辨率形成樣品表面的三維形狀(形貌)的圖像。這是通過光柵掃描樣品相對(duì)于頂端的位置并記錄對(duì)應(yīng)于恒定探針-樣品相互作用的探針高度來實(shí)現(xiàn)的。表面形貌通常顯示為偽彩色圖。

  3、在操作中，頂端和樣品之間的力也可以通過可控的方式來改變樣品的性質(zhì)。這方面的例子包括原子操作、掃描探針光刻和細(xì)胞的局部刺激。

  在采集形貌圖像的同時(shí)，可以局部測(cè)量樣品的其他特性，并顯示為圖像，通常具有類似的高分辨率。這種性質(zhì)的例子是機(jī)械性質(zhì)，如硬度或粘合強(qiáng)度，以及電性質(zhì)，如導(dǎo)電性或表面電勢(shì)。