原子力顯微鏡它是以掃描隧道顯微鏡的基本原理發(fā)展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現(xiàn)為納米科技的發(fā)展起到了很大的推動作用。以AFM原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡它是在樣品表面利用一種小探針進(jìn)行掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。使用原子力顯微鏡掃描樣品可以獲得各種類型樣品表面的狀態(tài)信息。相對于一些常規(guī)的顯微鏡，AFM原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點，它是在大氣條件下，使用高倍率觀察樣品的表面，幾乎可用于所有的樣品（對樣品表面的光潔度是有一定的要求），而不用進(jìn)行其他的制樣處理，就能夠獲得樣品表面的三維形貌圖像。并且還可以對掃描得到的三維形貌的圖像進(jìn)行一個粗糙度的計算，厚度，步寬，方框圖以及顆粒度分析等。

原子力顯微鏡能夠檢測很多種樣品，提供表面的研究，生產(chǎn)控制還有流程發(fā)展的一些數(shù)據(jù)，這些是很多常規(guī)的掃描型表面粗糙度儀器或者電子顯微鏡所提供不了的。

原子力顯微鏡的主要應(yīng)用：

1、用于檢驗紙張的質(zhì)量。

2、分析陶瓷膜表面的形貌。

3、評定材料納米尺度表面的形貌特征。

以上就是今天小編為大家介紹的原子力顯微鏡以及它的應(yīng)用，想了解更多，歡迎關(guān)注留言或是電話咨詢小編哦！