原子力顯微鏡是通過(guò)探針與被檢測(cè)樣品直接微弱的相互作用力來(lái)獲得物質(zhì)表面形貌的信息。原子力顯微鏡AFM除了導(dǎo)電樣品之外，還可以觀測(cè)非導(dǎo)電樣品的表面結(jié)構(gòu)。在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中，可以分為三個(gè)部分，力檢測(cè)部分，位置檢測(cè)部分，反饋系統(tǒng)，今天小編主要為大家介紹下原子力顯微鏡的核心部分。

原子力顯微鏡AFM關(guān)鍵部分是力敏感元件和力敏感檢測(cè)裝置。所以微懸臂和探針針尖是決定原子力顯微鏡靈敏度的核心。為了可以準(zhǔn)確地反應(yīng)出樣品表面和針尖兩者間微弱的相互作用力的變化，得到更加真實(shí)的樣品表面形貌，提高原子力顯微鏡AFM的靈敏度，對(duì)于原子力顯微鏡AFM微懸臂的設(shè)計(jì)通常要求滿(mǎn)足以下的幾個(gè)條件。

①具有較低的力學(xué)彈性系數(shù)，使用很小的力就能夠產(chǎn)生可觀測(cè)的位移；

②具有較高的力學(xué)共振頻率；

③較高的橫向剛性，針尖和樣品表面的摩擦不會(huì)使其發(fā)生彎曲；

④微懸臂長(zhǎng)度盡可能的短；

⑤微懸臂帶有能夠通過(guò)光學(xué)，電容或者隧道電流的方法檢測(cè)其動(dòng)態(tài)位移的鏡子或者電極；

⑥針尖盡可能的尖銳;

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