原子力顯微鏡原理和用途的實(shí)用筆記

 新聞資訊     |      2022-06-10 09:08:08

1、1986年原子力顯微鏡 AFM誕生，彌補(bǔ)了掃描隧道顯微鏡（STM）不能觀測(cè)非導(dǎo)電樣品的缺陷。

2、原子力顯微鏡AFM的基本原理：原子力顯微鏡是將一個(gè)對(duì)微弱力很敏感的微懸臂一端固定，另一端有一個(gè)微小的針尖，其jian端原子與樣品表面原子間存在及很微弱的排斥力，利用光學(xué)檢測(cè)法或隧道電流檢測(cè)法，通過(guò)測(cè)量針尖與樣品表面原子間的作用力獲得樣品表面形貌的三維信息。


原子力顯微鏡下的晶圓.png


3、AFM成像模式：接觸式、非接觸式和共振模式。

4、原子力顯微鏡AFM在高分子材料中很常見(jiàn)的用途：

（1）觀察膜表面的形貌和相分離，研究高聚物表面性能：比如表征材料表面粗糙度，研究共混物相分離”海島“結(jié)構(gòu)，測(cè)量材料表面的納米摩擦力。

（2）分析高聚物結(jié)晶形態(tài)，研究水膠乳成膜過(guò)程。

（3）研究單鏈高分子結(jié)構(gòu)，表征高分子鏈構(gòu)象，研究高分子單鏈性能。

（4）研究高聚物與納米顆粒的相互作用。

上面內(nèi)容就是小編記錄的一些關(guān)于原子力顯微鏡的實(shí)用筆記。希望對(duì)大家了解原子力顯微鏡有所幫助。更多關(guān)于原子力顯微鏡的問(wèn)題歡迎網(wǎng)站留言或是電話咨詢小編哦，下期分享內(nèi)容再見(jiàn)！