今天本原小編主要為大家介紹下掃描探針顯微鏡的發(fā)展方向，掃描探針顯微鏡是基于探針在被測試樣的表面進行縱向，橫向掃描引起相關檢測量變化的原理研制的設備。下面我們一起來看一下吧。

　?、偬结樶樇獾墓に囇芯俊Ｌ结樶樇獾难芯繉τ趻呙杼结橈@微鏡的分辨率是十分重要的，怎樣提高針尖的尖度，延長探針的使用壽命也就成了掃描探針顯微鏡長期研究的問題。

　?、趯τ趻呙杷淼里@微鏡，偏置電壓的控制，也是研究的關鍵。電壓過高，電場強度增大，有利于原子遷移；然而場強過大，在針尖和試樣面之間會產(chǎn)生復雜化學反應，導致原子操縱過程變得復雜。

　　③接觸面處的接觸距離，是掃描探針顯微鏡中十分關鍵的因素。恰當?shù)慕佑|距離，不僅對延長針尖的使用壽命有明顯的幫助，還能夠提高掃描探針顯微鏡的分辨率。而接觸距離在原子的操縱中，將起著決定性的作用。

　　電場的強弱以及原子間力的大小跟接觸的距離關系十分密切，特別是原子力顯微鏡，研究發(fā)現(xiàn)，當接觸的距離達到某個值的時候，接觸面處的原子會發(fā)生“突跳”，而“突跳”對原子操縱的影響是很大的。

　　我國已經(jīng)把掃描探針顯微鏡列為急需突破的納米科技發(fā)展的共性關鍵技術。相信在不久的將來，掃描探針顯微鏡會在更多領域中得到發(fā)展。

　　以上就是今天本原小編為大家介紹的掃描探針顯微鏡的全部內(nèi)容了，希望本文章可以為大家之后了解掃描探針顯微鏡有一定的幫助，想要了解更多掃描探針顯微鏡的相關信息，請關注我們廣州本原納米儀器的官方網(wǎng)站。

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