今天小編和大家分享的是原子力顯微鏡三種模式的優(yōu)缺點(diǎn)，具體內(nèi)容如下：

一：接觸模式：
優(yōu)點(diǎn)：其掃描速度較快，同時(shí)也是唯Y能夠獲得“原子分辨率”圖像的原子力顯微鏡，垂直方向上有明顯變化的質(zhì)硬樣品，用Contact Mode掃描成像也是可以的。

缺點(diǎn)：橫向力影響圖像質(zhì)量。在空氣中，因?yàn)闃悠繁砻嫖揭簩拥拿?xì)作用，使針尖與樣品之間有很大的粘著力。橫向力與粘著力的合力會(huì)降低圖像空間分辨率，而且針尖刮擦樣品會(huì)損壞像生物樣品、聚合體等軟質(zhì)樣品。

二：非接觸模式：
優(yōu)點(diǎn)：樣品表面沒有作用力。

缺點(diǎn)：由于針尖與樣品分離，橫向分辨率低；為了避免接觸吸附層而導(dǎo)致針尖膠粘，掃描速度比Contact Mode AFM低。通常非常怕水的樣品用的多，要求較高，比如要很薄的吸附液層，否則針尖會(huì)因?yàn)樘穸萑胍簩?，引起反饋不穩(wěn)，刮擦樣品。由于上述缺點(diǎn)，嚴(yán)重限制了on-contact Mode的使用。

三：敲擊模式：

優(yōu)點(diǎn)：使橫向力的影響得到了消除。并且由吸附液層引起的力也得到了降低，圖像分辨率高，適合觀測(cè)軟、易碎、或膠粘性樣品，對(duì)其表面不會(huì)有其他的損傷。

缺點(diǎn)：與Contact Mode AFM的掃描速度相比較而言，要慢一點(diǎn)。

綜上所述就是小編和大家分享的原子力顯微鏡三種模式的優(yōu)缺點(diǎn)，希望可以幫助大家了解原子力顯微鏡，從而在使用時(shí)更加得心應(yīng)手。如果有需要，撥打電話咨詢我們。