原子力顯微鏡對(duì)比于現(xiàn)有的其它顯微工具，以其高分辨、制樣簡(jiǎn)單、操作易行等特點(diǎn)而備受關(guān)注，并在生命科學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮了重大作用，極大地推動(dòng)了納米科技的發(fā)展，促使人類進(jìn)入了納米時(shí)代。

AFM原子力顯微鏡的針尖技術(shù)

目前，一般的探針式表面形貌測(cè)量?jī)x垂直分辨率已達(dá)到0.1nm，因此足以檢測(cè)出物質(zhì)表面的微觀形貌。普通的原子力顯微鏡探針材料是硅、氧化硅或氮化硅(Si3N4)，其Z小曲率半徑可達(dá)10nm。由于可能存在“擴(kuò)寬效應(yīng)”，針尖技術(shù)的發(fā)展在AFM原子力顯微鏡中非常重要。

探針針尖的幾何物理特性制約著針尖的敏感性及樣品圖像的空間分辨率。因此針尖技術(shù)的發(fā)展有賴于對(duì)針尖進(jìn)行能動(dòng)的、功能化的分子水平的設(shè)計(jì)。只有設(shè)計(jì)出更尖銳、更功能化的探針，改善原子力顯微鏡的力調(diào)制成像術(shù)和相位成像技術(shù)的成像環(huán)境，同時(shí)改進(jìn)被測(cè)樣品的制備方法，才能真正地提高樣品表面形貌圖像的質(zhì)量。