原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡的基本原理發(fā)展起來的一種掃描探針顯微鏡。能夠檢測許多樣品，提供表面研究與生產(chǎn)控制或者流程發(fā)展的數(shù)據(jù)，這些都是常規(guī)掃描型表面粗糙度儀及電子顯微鏡所不能夠提供的。今天小編為大家介紹的是原子力顯微鏡的作用。

1、在力測量中，AFM原子力顯微鏡能夠用來測量探針與樣品之間的力，作為它們相互分離的函數(shù)。這可以應(yīng)用于力譜分析，測量樣品的機械特性。

2、對于成像來說，探針對樣品施加在上的力的反應(yīng)能夠用于以高分辨率形成樣品表面的三維形狀（形貌）的圖像。這是通過光柵掃描樣品相對于頂端的位置并記錄對應(yīng)于恒定探針-樣品相互作用的探針高度來實現(xiàn)的。表面的形貌一般顯示為偽彩色圖。

3、在操作的過程中，頂端與樣品之間的力也能夠通過可控的方法來改變樣品的性質(zhì)。比如原子操作，掃描探針光刻以及細(xì)胞的局部刺激。

在采集樣品形貌圖像的同時，可以局部的測量樣品的其他性質(zhì)，并顯示為圖像，一般具有相似的高分辨率。比如機械性質(zhì)：硬度或者是粘合強度，或者是電性質(zhì)：導(dǎo)電性或者是表面電勢。