AFM原子力顯微鏡在晶體材料中的應(yīng)用：專家學(xué)者經(jīng)過不斷研究和分析得到了很多晶體生長的模型，但是經(jīng)過更加深入的分析和研究發(fā)現(xiàn)這些理論模型和實(shí)際情況是否相同還是具有一定差異，也逐漸成為學(xué)者討論和研究的重點(diǎn)，所以人們希望通過顯微鏡來監(jiān)測(cè)和觀察生長過程。雖然，使用傳統(tǒng)的顯微鏡已經(jīng)觀測(cè)出一定的成果，但是由于這些光學(xué)顯微鏡、激光全息干涉技術(shù)等存在分辨率不是十分高、實(shí)驗(yàn)條件不是很好以及放大不足等問題，使得研究過程出現(xiàn)很大困難，導(dǎo)致不能觀測(cè)納米級(jí)的分子等。

原子力顯微鏡的發(fā)展，為科學(xué)家們研究納米級(jí)分子或者原子提供了依據(jù)，也成為了專業(yè)人士研究晶體過程的重要方式。利用這種AFM原子力顯微鏡具有的能夠在溶液中觀察以及高分辨率等特點(diǎn)，可以保證科學(xué)家們能夠很好的觀測(cè)到晶體生長過程中的納米級(jí)圖像，從而不斷分析和掌握材料的情況。