影響AFM原子力顯微鏡工作的力介紹：現(xiàn)在讓我們了解一下操作過程中作用在懸臂和尖D上的兩個(gè)*重要的力。

范德華力/倫敦色散力： 將兩個(gè)或多個(gè)電中性體相互吸引的弱分子間電力稱為范德華力或倫敦色散力。

力與物體之間的距離成反比。在這種情況下，觀察的兩個(gè)物體是樣品和懸臂梁。

靜電力：這些力由兩個(gè)或多個(gè)帶電體相互施加。對于帶相同電荷的物體，該力是排斥力；對于帶相反電荷的物體，該力是吸引力。

當(dāng)懸臂梁的尖D遠(yuǎn)離物體表面時(shí)，范德華引力作用于其上，將其拉近。發(fā)生這種情況時(shí)，懸臂會向樣品表面彎曲。

尖D垂直接近表面。一旦足夠接近，實(shí)際上可以觀察到靜電排斥力的大小往往會變得更大并占主導(dǎo)地位。之前向表面彎曲的懸臂現(xiàn)在被推離表面。

這種排斥也是由于尖D無法穿透樣品造成的。這種偏轉(zhuǎn)的變化可以作為發(fā)現(xiàn)一些物理特性的基礎(chǔ)，例如觀察到的樣品的剛性。

因此，除了掃描之外，原子力顯微鏡還可以用于測量樣品作用在懸臂尖D上的力。