原子力顯微鏡的主要工作模式有靜態(tài)模式和動態(tài)模式兩種。在靜態(tài)模式中，懸臂從樣品表面劃過，從懸臂的偏轉(zhuǎn)可以直接得知表面的高度圖。在動態(tài)模式中，懸臂在其基頻或諧波或附近振動，而其振幅、相位和共振與探針和樣品間的作用力相關(guān)，這些參數(shù)相對外部參考的振動的改變可得出樣品的性質(zhì)。

接觸模式

在靜態(tài)模式中，靜態(tài)探針偏轉(zhuǎn)用做反饋信號。因為靜態(tài)信號的測試與噪音和偏移成正比，低硬度探針用來增強外偏轉(zhuǎn)信號。然而，因為探針非常接近于樣品的表面，吸引力非常強導致探針切入樣品表面。因此靜態(tài)原子力顯微鏡幾乎都用在總使用力為排斥力的情況。結(jié)果，這種技術(shù)經(jīng)常被叫做“接觸模式”。在接觸模式中，掃描過程時保持探針偏轉(zhuǎn)不變來使其探針和樣品表面的作用力保持恒定。

以上就是原子力顯微鏡廠家介紹的原子力顯微鏡的三種工作成像模式之接觸模式