AFM原子力顯微鏡的測試范圍廣泛，包括表面觀察、尺寸測定、表面粗糙測定、顆粒度解析、突起與凹坑的統(tǒng)計處理、成膜條件評價、保護層的尺寸臺階測定、層間絕緣膜的平整度評價、VCD涂層評價、定向薄膜的摩擦處理過程的評價、缺陷分析等。其納米級的分辨能力使其成為研究納米科技和材料分析的重要工具。

具體而言，原子力顯微鏡可以通過不同的測量模式來分析材料的其他特性，如樣品的靜電力、磁力或者彈力。在材料分析中，它可以檢測纖維、粉末、溶液、薄膜、納米片、生物蛋白等樣品，進行粗糙度、表面形貌、厚度、相圖、彈性模量等測量。此外，原子力顯微鏡還可以進行多種模式的成像，如摩擦力圖像、定量相位圖像等，并可以對表面局域電場力、磁場力、表面電勢以及導(dǎo)電性、電場力及磁場力圖像進行測量。

測試時，原子力顯微鏡通過探測微細針尖和樣品原子團之間相互作用力的變化來檢測樣品表面的高低起伏。其主要特點包括具有接觸模式、輕敲模式、相位成像模式、抬起模式、暗抬高模式等多種掃描方式，以及表面形貌掃描、靜電力顯微鏡、導(dǎo)電原子力顯微鏡、磁力顯微鏡、橫向力/摩擦力顯微鏡、力曲線、納米壓印等多種功能模塊。

請注意，具體的測試范圍可能會因設(shè)備型號、生產(chǎn)廠家以及技術(shù)規(guī)格的不同而有所差異。因此，在選擇和使用原子力顯微鏡時，建議參考設(shè)備的技術(shù)手冊和廠家提供的信息，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。