是一種納米級表面形貌和物理性質測量技術，能夠直接觀測納米級別的表面形態(tài)、粗糙度、力學性質等。以下是AFM原子力顯微鏡的應用總結介紹：

1. 樣品表面形貌和粗糙度測量

表面形貌：AFM原子力顯微鏡能夠清晰地顯示樣品的表面形貌，如凹凸、納米線、納米孔等。

粗糙度測量：原子力顯微鏡的高度像可用于樣品表面微區(qū)高分辨的粗糙度測量，應用配套的數(shù)據處理軟件能得到測定區(qū)域內粗糙度各表征參數(shù)的統(tǒng)計結果，如表面平均粗糙度Ra和均方根粗糙度Rq。

2. 力學性質測試

AFM原子力顯微鏡可以通過測量針尖與樣品之間的相互作用力來獲取樣品的力學性質，如彈性模量、硬度、粘附力等。例如，在細胞力學特性的研究中，原子力顯微鏡能夠測量細胞的彈性模量和粘性模量。

3. 材料科學研究

AFM原子力顯微鏡在材料科學領域有廣泛應用，包括研究材料的表面形貌、晶格結構、相界等。它還可以用于制備和表征納米結構，如納米線、納米管、納米顆粒等。

4. 生物學研究

原子力顯微鏡在生物學研究中具有突出優(yōu)勢，如樣品制備簡單、對樣品的破壞小、無需導電、無需低溫或真空條件等。它能夠對活細胞進行接近實時的觀察，提供生物分子的高分辨三維圖像，并觀察生物分子之間的作用力。

5. 特殊模式應用

靜電力顯微鏡（EFM）：用于探測樣品表面的靜電力梯度，表征樣品表面的靜電勢能、電荷分布及電荷運輸?shù)取?/span>

開爾文探針力顯微鏡（KPFM）：在獲得樣品表面形貌的基礎上可同時得到表面功函數(shù)或表面勢。

磁力顯微鏡（MFM）：利用磁性探針檢測磁性材料表面的磁作用力，獲得表面磁力分布、磁疇結構等信息。

壓電響應顯微鏡（PFM）：用于納米尺度上研究壓電材料、鐵電材料等的表面電勢及壓電響應的測量。

導電原子力顯微鏡：在接觸模式下，給導電探針和樣品間施加直流電壓，測量電流，從而得到樣品的電流分布圖像。

6. 技術優(yōu)勢

AFM原子力顯微鏡具有非接觸、無損、高分辨率等優(yōu)點，能夠在多種環(huán)境（如空氣、液體）中運作，為科學研究提供了有力的支持。

總之，原子力顯微鏡在材料科學、生物學、物理學等領域有著廣泛的應用，通過檢測原子間的作用力實現(xiàn)對樣品表面的高分辨率成像和物理性質測試，為科學研究提供了重要的技術支持。