原子力顯微鏡AFM是利用檢測樣品表面與細微的探針針尖之間的相互作用力（原子力）測出表面的形貌。探針尖尖在小的軔性的懸臂上，當探針接觸到樣品表面時···

原子力顯微鏡的探針長度只有幾微米長，一般由懸臂梁和針尖組成，主要原理是將原子力介于針尖和試驗樣品之間，使懸臂光束產(chǎn)生精細位移來測量表面結構的···

自1986年研制成功這種新型顯微鏡以來，原子力顯微鏡已在材料學、分子生物學、細胞生物學等領域獲得廣泛應用。

原子力顯微鏡AFM是由IBM公司的Binnig與史丹佛大學的Quate于1985年所發(fā)明的，其目的是為了使非導體物品也可以在顯微鏡下進行觀測。

原子力顯微鏡共有三種不同的工作模式，接觸模式，非接觸模式，以及共振模式或者輕敲模式。今天原子力顯微鏡廠家的小編主要為大家介紹下接觸模式。

原子力顯微鏡應用于食品中淀粉研究得到一些關于淀粉老化現(xiàn)象