AFM全稱Atomic Force Microscope，也就是原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一款具有原子級高分辨的新型···

原子力顯微鏡是用來研究固體材料的表面結(jié)構(gòu)一種分析儀器，包括絕緣體。它通過對待測樣品表面與微力傳感元件之間極弱的原子相互作用進(jìn)行檢測，以此來對···

在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中可以分為三個部分，力檢測部分，位置檢測部分以及反饋系統(tǒng)。

原子力顯微鏡是表征薄膜性質(zhì)的重要手段之一，它不僅是一臺顯微鏡，更是一個多功能的微納測量與操縱平臺。

原子力顯微鏡通常使用氮化硅作為一個靈敏的彈性微懸臂，在其J端有一個很尖的探針用來在樣品上掃描。

原子力顯微鏡一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用···