隨著原子力顯微鏡的使用率越來越高，AFM原子力顯微鏡的很多問題也出來了，下面小編給大家分享幾個常見問題以及解答方案：

1、為什么原子力顯微鏡測試樣品顆?；蛘弑砻娲植诙炔荒苓^大？

一般來說AFM原子力顯微鏡儀器測試的Z相范圍是10um左右（有些儀器可能只有2um），因此樣品表面起伏過大的樣品可能會超出儀器掃描范圍，另外粗糙度比較大的樣品會導致針尖易磨鈍或者受污染，對圖像質(zhì)量有很大影響，且磨損無法修復增加耗材成本。

2、原子力顯微鏡拍攝不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度與自己預期不符合？

AFM原子力顯微鏡拍攝也需要不斷尋找合適的位置拍攝，同一樣品不同拍攝部位表面形貌和粗糙度極有可能不一致，因為原子力顯微鏡成像范圍較小，與拍攝樣品表面是否均勻息息相關(guān)。

3、什么是相圖？如何分析相圖？         

作為輕敲模式的一項重要的擴展技術(shù)，相位模式是通過檢測驅(qū)動微懸臂探針振動的信號源的相位角與微懸臂探針實際振動的相位角之差（即兩者的相移）的變化來成像。引起該相移的因素很多，如樣品的組分、硬度、粘彈性質(zhì)，模量等。因此利用相位模式，可以在納米尺度上獲得樣品表面局域性質(zhì)的豐富信息。值得注意的是，相移模式作為輕敲模式一項重要的擴展技術(shù)，雖然很有用。但單單是分析相位模式得到的圖像是沒有意義的，B須和形貌圖相結(jié)合，比較分析兩個圖像才能得到你需要的信息。簡單來說，如果兩種材料從原子力顯微鏡形貌上來說，對比度比較小，但又非常想說明這是在什么膜上長的另外一種，這個時候可以利用二維形貌圖+相圖來說明（前提是兩種材料的物理特性較為不同，相圖有明顯對比信號才行）。

4、樣品導電性不好能測AFM原子力顯微鏡嗎？需要噴金處理嗎？

原子力顯微鏡常規(guī)測試項目對樣品的導電性沒有要求，不導電的樣品也是可以測試的，不需要做噴金處理，但是部分電學模塊的測試，比如KPFM，是需要樣品導電的，金顆粒是有一定尺寸的，噴金后可能會在形貌上有影響，因此一般不建議噴金處理。