Peak-Force Tuna和C-AFM測試之間的區(qū)別？ 

TUNA電流是探針要觸及樣品后的隧穿電流值，反應了樣品的導電性，同時探針不會對樣品造成損壞，可以說即可以表征樣品本征形貌，也反應了樣品的電學性能。C-AFM是直接接觸樣品，如果樣品不夠硬(比如有機物)，針尖會直接劃破樣品，同時采集電學信號。兩種方式，電流大小會有差異，pktuna模式下，電流會小一些，相對比較的話，結果上是一樣。

導電力顯微鏡一般表征樣品多厚區(qū)域內的電流分布？        

跟材料導電性能有關，導電材料的話幾微米厚的可以，要是半導體材料的話可能需要是納米級別的，1微米以下。 

什么是PFM掃回字（也叫掃壓電籌/寫疇）？ 

這個比單純的PFM難，要來回加偏轉電壓讓壓電材料發(fā)生極化反轉，Z后再掃整體的圖，一共要掃四次。加三次電壓發(fā)生三次反轉，Z后再掃一個大范圍的才能出現(xiàn)這種圖。

AFM接觸模式，掃描范圍越大，對針損壞越大嗎？

掃描范圍大的情況下考慮表面出現(xiàn)較高起伏顆粒會對探針造成磨損，另外掃描范圍很大時，接近掃描Z大范圍93微米時會對掃描管造成損傷。

什么時候才會考慮調節(jié) I   gain/P gain/setpoint這些參數(shù)? 

setpoint與力有關，接觸模式和峰值力輕敲模式下setpoint與力成正比關系，如果探針接觸不到表面出現(xiàn)形貌差異較大時需要增大setpoint，輕敲模式力與setpoint成拋物線關系，I gain在每次成像時都需要調節(jié)，先慢慢增大至誤差通道出現(xiàn)噪聲震蕩時回調I gain值至震蕩消失為Z佳，調節(jié)好I gain后將P gain設置為I gain的2倍。 

接觸共振模式測粘性，振幅只與粘度有關嗎？quality factor 只與粘性有關（正相關）嗎？        

是的，quality factor只與粘性正相關。

AFM可以像STM那樣看到原子級尺度（納米）的形貌嗎？

可以，一般在液下測量原子相。

測量兩相之間電勢差采用KPFM模式還是PFM模式？

采用KPFM模式。

setpoin是加在壓電陶瓷上的直流偏壓嗎？

setpoint只是一個設定值，并不是直接加在陶瓷片上的直流偏壓。 

AFM可以在平臺上加偏壓嗎？如果能一般能加到多大？

可以加在樣品臺上，Z大可以加到10000 mV。 

黏附力測試沒有那么平滑怎么辦？

可能是測試時外界噪聲影響，建議測試時減小ramp頻率，后期可以通過軟件將曲線適當平滑處理。

樣品盤找不到鏡頭已經降到Z底下了怎么辦        

考慮原子力顯微鏡聚焦沒調節(jié)好，一般在倒影相調好樣品虛像后再切換到sample相繼續(xù)往下聚焦至樣品實像。 

片層兩邊黑是假象，怎么去掉？

片層兩邊黑是由于起伏對比度的差異，可以采用plane fit一階拉平的方式，注意框選同一個面上的點。