隨著原子力顯微鏡的使用率越來越高，AFM原子力顯微鏡的很多問題也出來了，下面小編給大家分享幾個常見問題以及解答方案：

如何從原子力顯微鏡結果中獲得樣品的粗糙度？ 

表面粗糙度計算，這是AFM的優(yōu)勢，可以得到全圖粗糙度和所選區(qū)域的粗糙度，Rq:均方根粗糙度和Ra:平均值粗糙度，這兩個都能參考，在使用時同組數據保持一致就行。如果需要獲得粗糙度值，在AFM原子力顯微鏡的離線軟件選中高度圖，直接點擊roughness即可。

Force mapping和楊氏模量圖之間的差別？        

Force mapping是力曲線面掃。通過對Force mapping擬合換算可以獲得楊氏模量圖。Force mapping和楊氏模量圖之間*關鍵的差別是：一般Force mapping圖的采集分辨率為16*16，32*32或64*64， 效果如下左圖所示。楊氏模量圖的采集分辨率為256*256，效果如下右圖所示。另外Force mapping結果默認是可以保留力曲線的數據的，但是楊氏模量圖默認是不保留力曲線的數據的（如果楊氏模量圖需要導出力曲線，需要在測試前說明），一般蛋白類的樣品不適合楊氏模量圖，因為楊氏模量圖需要的力比較大，并且對樣品有要求，制備均勻，厚度超過20nm才可以做楊氏模量圖。    

力曲線測試，楊氏模量圖和Force mapping圖之間的區(qū)別？ 

力曲線和Force mapping的區(qū)別就在于力曲線采集的數據少（類似能譜點掃，一般隨機采集3-5個點），Force mapping采集的力曲線多（類似力曲線面掃，分辨率可以為16*16,32*32等），面掃的每個點的力曲線都可以導出，但是數據量比較大，一般不建議全部導出；楊氏模量圖的可以獲得面范圍內的楊氏模量分布，分辨率一般為256*256，但默認不保存力曲線的數據，如果需要在采集楊氏模量圖的時候保存力曲線的數據需要提前說明。

PFM測試中，激勵電壓是什么意思？         

壓電力顯微鏡(PFM)即是在AFM基礎上發(fā)展起來利用原子力顯微鏡導電探針檢測樣品的在外加激勵電壓下的電致形變量的顯微鏡。為了有效的提取出PFM信號，通常會對探針施加某一固定頻率(遠低于探針共振頻率)的激勵信號，通過鎖相放大器對PFM信號進行提取。在PFM測試中，常規(guī)儀器的激勵電壓一般為10V左右，配有高壓模塊的儀器可以測試到220V。

測試的壓電驅動電壓的選擇需要注意什么？  

PFM測試中獲得的信噪比取決于樣品的壓電響應、探針種類和驅動電壓大小等諸多因素。  在大多數情況下，增加驅動電壓（即施加在樣品上的交流電的振幅），信噪比將得到改善。如果被測樣品是薄膜的情況則需要注意，過大的驅動電壓可能導致樣品被極化。因此針對不同樣品主要選擇合適的驅動電壓，建議通過參照同類型樣品的參考文獻進行選擇。