原子力顯微鏡可以通過懸臂掃描特定區(qū)域來完成樣品的表面形貌成像，激光束被用于檢測懸臂靠近表面。

原子力顯微鏡AFM在一定程度上彌補(bǔ)了普通掃描顯微鏡的缺陷，提高了檢測的分辨率。

眾所周知，顯微鏡的發(fā)明把人們的視野從宏觀世界帶到了微觀世界，原子力顯微鏡的出現(xiàn)是人們觀察微觀世界的又一個里程碑。

納米復(fù)合材料進(jìn)行科學(xué)的發(fā)展和納米制備方法技術(shù)的進(jìn)步，將需要不斷更新的測試數(shù)據(jù)技術(shù)和表征手段，以評價研究納米粒子的粒徑、形貌、分散和團(tuán)聚狀況。

1986年原子力顯微鏡 AFM誕生，彌補(bǔ)了掃描隧道顯微鏡（STM）不能觀測非導(dǎo)電樣品的缺陷。

原子力顯微鏡探測到的原子力由兩種主要成分組成：一種是吸引力即范德瓦耳斯力；另外一種是電子云重疊而引起的排斥相互作用。