原子力顯微鏡在不同工作模式下的技術(shù)分析與應(yīng)用場景 AFM原子力顯微鏡作為一種納米尺度表征工具，通過針尖與樣品表面原子間作用力的變化實(shí)現(xiàn)高分辨率成···
AFM原子力顯微鏡在半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域中發(fā)揮的優(yōu)勢有那些
原子力顯微鏡在半導(dǎo)體工業(yè)中的核心優(yōu)勢：AFM原子力顯微鏡作為納米級表征的J端工具，在半導(dǎo)體工業(yè)中展現(xiàn)出高分辨率、多功能性、非破壞性三大核心優(yōu)勢，···
AFM原子力顯微鏡幾個(gè)常見問題如何解答（二）
Peak-Force Tuna和C-AFM測試之間的區(qū)別？ TUNA電流是探針要觸及樣品后的隧穿電流值，反應(yīng)了樣品的導(dǎo)電性，同時(shí)探針不會對樣品造成損壞，可以說即可以表···
AFM原子力顯微鏡各工作模式特點(diǎn)應(yīng)該如何選擇？
原子力顯微鏡是一種基于測量樣品表面與超銳探針之間相互作用力的顯微鏡，其工作模式的選擇取決于樣品的性質(zhì)、所需的分辨率、掃描速度以及對樣品可能造···
AFM原子力顯微鏡幾個(gè)常見問題如何解答？
原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器，它能夠以納米級分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息，是觀察微觀···
AFM原子力顯微鏡一共有幾個(gè)工作模式
原子力顯微鏡的工作模式主要分為以下三類，每種模式對應(yīng)不同的應(yīng)用場景和測量原理：1. 接觸模式（Contact Mode） 原理：探針J端與樣品表面直接接觸，通···