由于該產(chǎn)品已進(jìn)行多次功能升級和更新迭代，我們不保證原子力顯微鏡(教學(xué)型)WY-T-AFM提供的圖片和各項參數(shù)等信息完全一致，我們建議您點擊此處聯(lián)系我們的在線工程師為您服務(wù)，同時我們也歡迎您電話咨詢：4001-123-022

◆性能特點：
小型化及可拆卸化設(shè)計，非常便于攜帶及教學(xué)。

激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定，抗干擾性強。
精密探針定位裝置，激光光斑對準(zhǔn)調(diào)節(jié)非常簡便。
單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描。
馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品。
自動光學(xué)定位，無需調(diào)焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域。
彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好。

集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%。

◆測量范圍及應(yīng)用：

測量范圍：二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

應(yīng)用：納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4（15）、CrPS4（16）、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。

◆ 應(yīng)用案例 Application Case