原子力顯微鏡(光學(xué)一體機(jī)) WY-Op-AFM

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◆性能特點:

光學(xué)金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設(shè)計,功能強(qiáng)大。

同時具備光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時工作,互不影響。

同時具備光學(xué)二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能。

激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定,抗干擾性強(qiáng)。

精密探針定位裝置,激光光斑對準(zhǔn)調(diào)節(jié)非常簡便。

單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描。

馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式,保護(hù)探針及樣品。

超高倍光學(xué)定位系統(tǒng),實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位。

集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優(yōu)于98%。


◆測量范圍及應(yīng)用:

測量范圍:二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

應(yīng)用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4(15)、CrPS4(16)、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。


◆ 應(yīng)用案例 Application Case

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序號

名稱

技術(shù)參數(shù)

01

工作模式

接觸模式、輕敲模式

02

選配模式

摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力

03

力譜曲線

F-Z力曲線、RMS-Z曲線

04

XY掃描范圍

50×50um,可選20×20um,100×100um

05

Z掃描范圍

5um,可選2.5um,10um

06

掃描分辨率

橫向0.2nm,縱向0.05nm

07

樣品尺寸

Φ≤68mm,H≤20mm

08

樣品臺行程

25×25mm

09

光學(xué)物鏡

5X/10X/20X/50X平場復(fù)消色差物鏡

10

光學(xué)目鏡

10X

11

照明方式

LED柯勒照明系統(tǒng)

12

光學(xué)調(diào)焦

粗微動手動調(diào)焦

13

攝像頭

500萬像素CMOS傳感器

14

顯示屏

10.1寸平板顯示器,帶圖像測量功能

15

掃描速率

0.6Hz~30Hz

16

掃描角度

0~360°

17

運(yùn)行環(huán)境

Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)

18

通信接口

USB2.0/3.0